DIN 2181 Bb.2-1951 米制ISO细牙螺纹M1至M52的两件一套的成套丝锥
作者:标准资料网 时间:2024-05-23 21:52:17 浏览:9013
来源:标准资料网
【英文标准名称】:Setsof2tapsformetricfineISO-threadsM1toM52
【原文标准名称】:米制ISO细牙螺纹M1至M52的两件一套的成套丝锥
【标准号】:DIN2181Bb.2-1951
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:
【国际标准分类号】:
【页数】:
【正文语种】:
【英文标准名称】:Testingofmaterialsforsemiconductortechnology-Contactlessdeterminationoftheelectricalresistivityofsemi-insulatingsemi-conductorslicesusingacapacitiveprobe
【原文标准名称】:半导体工艺材料试验.使用电容式探测器对半绝缘半导体切片电阻率的无接触测定
【标准号】:DIN50448-1998
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1998-01
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电阻;电绝缘材料;方法;半导体工艺;试验;测量;材料试验;测量技术;半导体工程;电学测量;测头;砷化镓;电气试验;半导体器件;半导体;半导体片;电阻率;校正
【英文主题词】:Calibration;Contactless;Electricalinsulatingmaterials;Electricalmeasurement;Electricalresistance;Electricalresistivity;Electricaltesting;Galluimarsenide;Indiumphosphide;Materialstesting;Measurement;Measuringprobes;Measuringtechniques;Methods;Probes;Semiconductordevices;Semiconductorengineering;Semiconductorslices;Semiconductortechnology;Semiconductors;Testing
【摘要】:Thisdokumentcoversthecontactlessdeterminationofthespecificelectricalresistivityofhighohmicresistant,semi-insulatingsemiconductorslices.#,,#
【中国标准分类号】:H80
【国际标准分类号】:29_045
【页数】:3P;A4
【正文语种】:德语
基本信息
标准名称: | 建筑电气照明装置施工与验收规范 |
中标分类: |
工程建设 >>
工业设备安装工程 >>
电气设备安装工程 |
发布部门: | 中华人民共和国住房和城乡建设部 |
发布日期: | 2010-08-18 |
实施日期: | 2010-06-01 |
首发日期: | |
作废日期: | |
起草人: | 谢振苗、傅慈英、沈立恩、沈立桥、王振生等 |
出版社: | 中国计划出版社 |
出版日期: | 2010-06-01 |
适用范围
本规范适用于工业与民用建筑物、构筑物中电气照明装置安装工程的施工与工程交接验收。
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所属分类: 工程建设 工业设备安装工程 电气设备安装工程