IEC 60749-11-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第11部分:温度的急速变化.双液电镀槽法

作者:标准资料网 时间:2024-05-23 05:59:28  浏览:9295   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part11:Rapidchangeoftemperature;Two-fluid-bathmethod
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第11部分:温度的急速变化.双液电镀槽法
【标准号】:IEC60749-11-2002
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2002-04
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:环境试验;试验;组件;机械试验;电子工程;集成电路;气候;半导体;电子设备及元件;气候试验;温度变化;电学测量;半导体器件;电气工程;定义;定义
【英文主题词】:Changesoftemperature;Climate;Climatictests;Components;Definitions;Destructivetesting;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environmentaltesting;Integratedcircuits;Mechanicaltesting;Semiconductordevices;Semiconductors;Testing
【摘要】:ThispartofIEC60749definestherapidchangeoftemperaturetestmethodandthetwo-fluid-bathmethod.Whenbothtestmethodsareperformedaspartofadevicequalification,resultsofairtoairtemperaturecyclingtakepriorityoverthistwo-fluid-bathtestmethod.Thistestmethodmayalsobeused,employingfewercycles(e.g.5to10cycles),totesttheeffectofimmersioninheatedliquidsthatareusedforthepurposeofcleaningdevices.Thistestisapplicabletoallsemiconductordevices.Itisconsidereddestructiveunlessotherwisedetailedintherelevantspecification.Ingeneral,thisrapidchangeoftemperatureandtwo-fluidbathmethodtestisinconformitywithIEC60068-2-14but,duetospecificrequirementsofsemiconductors,theclausesofthisstandardapply.
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:13P.;A4
【正文语种】:英语